Habiger, E.:
Elektromagnetische Verträglichkeit - Physikalische Grundlagen, Anforderungen, Sicherstellung, Nachweise, Messungen und Prüfungen, Bezüge zu anderen Produktmerkmalen und Problemfeldern.
Vortrag im Rahmen der BGFE-Seminare in Dresden am 12.03., 26.05. 22.10. und 01.12.2003

Habiger, E.
EMV - Produktattribut oder Zustandsdimension?
Plenarvortrag auf der EMV 2003 am 02.03.2003 in Augsburg.

Habiger, E.:
EMV... Globale EMV-Prozessführung, Gesetzgebung und Normung, Stand -Trends - und Wirkungen auf den Entstörmittelbedarf.
Vortrag auf der 13. Sitzung des Kundenbeirats der Würth Elektronik GmbH am 14.10.2003 in Niedernhall.

Habiger, E.:
EMV-Produktparameter.
Vortrag im Rahmen der von der DEMVT veranstalteten EMV-Tage 2003 am 10.11.2003 in München.

Hauser, S., Giebler, E., Reich, A.:
Modelle als aufwandsenkende Werkzeuge - am Beispiel erläutert.
Informationsveranstaltung zu einem Schulungs- und Trainingsprogramm für Planer und Betreiber: Stoffverlustminimierte Prozesstechnik in der Oberflächenveredlung, Leipzig 03/03

Hofmann, D.; Seidel, St.:
Fehlermanagement an dem ereignisdiskreten Prozess "Abfüllanlage" via Internet.
Kurvortrag und Demonstration zum NIKO-Workshop an der TU-Chemnitz, 18. März 2003.

Reimann S.:
Neue Möglichkeiten der Formationsmessung mittels optischer Fourier Prozessoren.
Auf dem PTS-Symposium: Innovative Messtechnik und neue Sensoren für die Prozess- und Qualitätssicherung, Dresden, 19.-20. 05.2003.

Tchernykh V.:
Airborne test results for a smart pushbroom imaging system with optoelectronic image correction.
On SPIE 10th International Symposium on Remote Sensing, Barcelona, Spain, 8-12 September 2003.

Tchernykh V.:
SMARTSCAN - Optoelektronische Bildkorrektur für Pushbroom-Fernerkundungskameras.
Auf der Tagung Applied Machine Vision, Stuttgart, 21.-22. 10.2003.